二手 J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 #9301004 待售

J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 Ellipsometer是一种高精度光谱椭圆someter，设计用于测量薄膜和表面的光学特性。这种全自动仪器将高分辨率椭圆偏振法与可编程样品定位器结合在一起，可用于200毫米大小的样品。它对各种材料的薄膜厚度、光学常数（折射率和吸收系数）和表面粗糙度进行精确可靠的测量。该UI-1500具有高度灵敏的光谱探测设备，具有从紫外线到近红外的各种波长。该系统可以测量0°至85°的入射角（AOI），以获得准确可靠的结果。该仪器还配备了自动晶片对准装置和样品定位机，便于样品加载。该UI-1500的精密光学器件提供了卓越的信噪比,具有卓越的精度.该仪器还具有高精度的数据采集和处理工具，用于准确和及时的数据分析。资产可配置为用于旋转和非旋转配置,并可用于各种应用,例如：薄膜沉积（粗度、光学常数等）。表面特性（粗糙度,光学常数）粘附试验纳米结构的光学参数薄膜应力分析.该UI-1500提供各种软件和硬件选项,以确保满足各种应用程序的需求。它支持自动晶片加载和晶片映射以实现快速高效的样本分析,以及实时数据采集和数据分析以获得快速结果。该UI-1500还具有易于使用的图形用户界面,用于配置分辨率和曝光时间。该UI-1500是表征薄膜和表面的完美仪器。这种光谱椭圆仪具有精确的光学、自动化的设置功能和用户友好的设计,是研究和开发实验室的理想选择,这些实验室寻求精确可靠的方法来测量各种材料的薄膜厚度、光学常数和表面粗糙度。