二手 SENTECH SE 400ADV #9258061 待售

製造商
SENTECH
模型
SE 400ADV
ID: 9258061
Ellipsometer.
SENTECH SE 400ADV是一种用于薄膜和表面分析的高精度光谱椭圆仪。是半导体、光电、汽车、表面科学等行业研发的理想工具。SENTECH SE400ADV设计精确度,在椭圆Ψ/ Δ中具有极好的重复性和0.15度的环境可重复性。高性能、超稳定的激光光源和探测器结构确保了测量的一致性和完整性。SE 400ADV提供自动校准功能和自动过程校正,以及从190 nm到1150 nm的22个波长设置的灵活性,以便测量光学常数和非兰伯特参数。它的高速斑点椭圆仪允许快速的时间相关测量,其专利的创新解决方桉,如自动样品定位器,使这成为一个强大的研究工具。SE400ADV标配6英寸样品卡盘,在样品水平上提供0.2µm步进精度,以及二氧化碳激光显微镜附件,使用户能够以真正的纳米分辨率研究地形、反射率和粗糙度测量的微观结构。可选的偏振调制器允许确定薄膜或材料的双折射和旋光,扩大了应用范围和可能性。SENTECH SE 400ADV使用Windows或Linux软件进行直观和用户友好的操作,通过各种实用和有用的功能最大程度地提高用户体验。它们包括一个完整的点击图形用户界面、一系列曲线拟合函数以及以最常见的文件格式导出测量数据的能力。SENTECH SE400ADV是需要最精确结果的应用的完美解决方桉,如光学常数的测量、非Lambert参数、沉积层厚度、层折射率、偏振测量和实时测量。无论是研发还是工业过程监测,SE 400ADV都超越了标准椭圆偏差法,在薄膜分析中处于领先地位。
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