二手 SENTECH Senduro 300 #293644159 待售

SENTECH Senduro 300
ID: 293644159
晶圆大小: 8"
优质的: 2008
Ellipsometer, 8" 2008 vintage.
SENTECH Senduro 300是一种最先进的薄膜计量椭圆仪。它设计用于测量层厚度、组成、密度和其他材料参数,具有卓越的精度和精确度。该装置利用多种先进的光学原理来测量样品在光谱的红外和可见范围内的偏振状态。Senduro 300的光学配置包含高精度压电测角仪和干涉偏振仪。测角仪用于精确旋转样品,并对外部椭圆偏振参数进行角度相关分析。根据研究材料选择合适的入射角,用双角偏振仪推导光学常数,如折射率、消光系数、复介电函数等。SENTECH Senduro 300能够实现非常高的精确度,并且还具有快速、非接触式测量的特点。样本位置使用集成的手动阶段和内置的电动阶段进行调整。后者配有控制器和激光指示器,允许样品表面精确对准。Senduro 300除了提供卓越的测量精度和速度外,还配备了几种先进的软件功能。例如,椭圆偏振仪包括一个自动温度控制和温度补偿系统,可确保在很宽的温度范围内得到一致的结果。此外,SENTECH Senduro 300还集成了复杂的多层分析工具和各种报告图片以及图形表示。Senduro 300凭借其先进的光学、精确的可移动级和强大的软件,是薄膜材料的一个非常宝贵的表征工具。它允许对层厚、组成和密度以及各种其他参数进行高度精确和可重复的测量。这使其成为半导体和光学器件制造质量保证的宝贵仪器。
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