二手 SOPRA GES-5E #9401838 待售
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SOPRA GES-5E是一种椭圆仪，用于通过测量和分析光束偏振变化来分析薄膜和层。这种特殊的模型被认为是通用、直观和可靠的，用于测量20纳米到2000纳米之间的样品厚度，并以高精度检查任何给定的薄膜。该装置根据椭圆偏振原理工作，解释由不同材料层引起的光束偏振变化及其各自的光学特性，以提供准确的数据。将一个已知的入射角作为目标，然后使用双检测器装置测量光束的偏振。探测器记录散射辐射的强度，然后由强大的ARM处理器以及复杂的算法和软件处理，从而形成图形。该图显示给定材料极化变化的测量值及其厚度。GES-5E是一种用户友好的多合一设计,包含内置数据分析计算机和触摸屏用户界面,包括易于使用的图形界面和应用程序软件集。除了显示、数据分析和报告，此接口还允许访问修改任何设置和参数。该单元包括一个机械支撑臂，使用户能够将光束点定位到样品台上所需的任何区域，并将相同的入射角保持在一个度以内。这确保了仪器在测量样品表面光学常数方面的高精度。SOPRA GES-5E配有高强度入射波长的石英卤素灯，双检测器光谱范围从350nm到1000 nm。它还提供了广泛的测量功能，包括原始数据显示、动态映射和全范围参数测量。其直观的操作使得它成为材料研究、半导体、光学等各个领域的研究人员、工程师和用户的理想选择。
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