二手 NIKON Optistation 3A #9147680 待售

NIKON Optistation 3A
製造商
NIKON
模型
Optistation 3A
ID: 9147680
Wafer inspection system.
NIKON Optistation 3A是一种先进的掩模和晶圆检验设备,旨在帮助改善工艺控制和降低生产成本。它是一种高通量、高精度的光学检测系统,采用先进的CCD成像技术在亚微米级检测掩模和晶圆图样。NIKON OPTISTATION 3A能够快速准确地检查各种半导体器件图样,包括小至0.25 µm的不规则和多边形图样。Optistation 3A采用双级高精度成像单元,由CCD成像阶段和RGB成像阶段两个阶段组成。CCD成像阶段以亚微米精度测量图桉边缘、形状和线宽。它还允许从实际芯片模式和掩码模式之间的迭加检测缺陷。RGB成像阶段用于检测实际芯片模式和掩模模式之间的任何颜色差异,如天然氧化物。OPTISTATION 3 A的软件具有直观的交互式用户界面,可轻松配置和控制机器的各种设置和功能。内置模式识别和掩码分析工具有助于快速检测晶圆模式中的缺陷。该软件还包括全面的掩蔽模式和迭加测量、快速缺陷识别以及各种设备/掩蔽模式比较功能。NIKON Optistation 3A附有多种有助于确保最高质量检测结果的高级功能,包括先进的模式检测算法、高精度校准和对准系统、多种成像校正功能以及强大的图像识别引擎。该工具还提供了一系列图像配置,以适应不同的应用程序要求。该资产为检查半导体行业中的掩模和晶片提供了可靠、经济高效的解决方桉。它提供了可靠、准确的审核结果、更快的处理速度和改进的过程控制。NIKON OPTISTATION 3A是提高半导体器件制造生产力和效率的理想解决方桉。
还没有评论