二手 ELECTROGLAS 4085X #9251750 待售
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ID: 9251750
晶圆大小: 8"
Prober, 8"
With TEMPTRONIC TPO 3010 controllers
Thermal non-contacting wafer chuck
TPO 3010B-2100-1 Temperature controller with IEEE interface
Wide temperature range: 200°C
DC Control system minimizes electrical noise
Temperature stability: ± 0.1°C
Temperature accuracy: ± 0.5°C Calibrated against transmission
High volume cassette to cassette
Advanced thermo chuck design:
Low stray capacitance and high electrical leakage resistance
Electrical surface insulation:
109 Ohm at 500 V between surface
Ground at +25°C
Superior chuck temperature uniformity: ± 0.5°C or ± 0.5% of target temperature
System controller: RMHN4
Display controller module: DCM3
Prober control module: PCM
Vision module: PRM-3
OPTEM HF Video microscope with (2) light sources
RAM / REID ASHMAN OM971FF Manipulator
SUN MICROSYSTEMS SPARC Server 670 MP
Power supply: 208 V, 20 A, 50/60 Hz.
ELECTROGLAS 4085X是由ELECTROGLAS在半导体工业测试的最前沿设计的PROBER，旨在满足最具挑战性的应用中对超高通量最苛刻的要求。4085X采用四级并联驱动的机械手设备,具有多轴运动功能,能够支撑最大500 mm的运动范围。最大动态载荷为1千克,所有6轴均设计为以高达1000毫米/秒的速度移动。ELECTROGLAS 4085X具有很高的速度、精度和可重复性要求，非常适合任何高精度测试系统。4085X是多用途的，具有两种不同的前置类型：标准型和高性能型。标准型具有低力200毫米探头,而高性能型则提供增强的高力500毫米探头。标准型是较软材料的理想选择，而高性能型则是较硬、较具挑战性的基材的首选。它还具有一个专有的索引，可以与复杂的定位和运动控制单元相结合，以最大的生产力。其先进的电子产品可以支持广泛的控制器和软件应用，以确保与任何测试机器的无缝集成。ELECTROGLAS 4085X还能够支持可选的NIST可追踪级校准包,允许进行完全可重复的测试。4085X设计为易于用户使用,并带有图形用户界面,以便于控制仪器。它还具有一系列可编程的功能，包括可编程晶片设置选项，允许快速和方便的晶片加载。总体而言,ELECTROGLAS 4085X是一种高性能处理器,非常适合任何需要精确、可重复性和高吞吐量的测试环境。它具有可自定义的选项、灵活的设计和精密的电子产品,非常适合在确保最佳精度的同时缩短测试时间。
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