二手 KLA / TENCOR P2 #9005127 待售

KLA/TENCOR P2是一种先进的晶圆测试和计量设备，设计用于晶圆级计量和缺陷审查。它使用最新技术检查和分析晶片的缺陷，测量各种半导体和其他材料的电气、光学和其他物理参数。该系统包括三个组件：主机单元、晶圆探测器和准分子激光器。大型机由光学显微镜级、自动prober级和晶圆处理机组成。它可以用椭圆偏振、偏振光显微镜、表面分析、吸收光谱和成像等一系列高分辨率成像技术进行分析。这些技术用于测量材料层、电流泄漏、层厚度、电阻率、表面粗糙度和光学特性。晶圆探针用于与晶圆接触并进行各种测试。探头包含一组接触晶片表面的微型探头。这允许与晶片接触以测量电阻、电容和电感等电参数。探头还测量电路的电位，流过晶圆的电流和监视器电压下降。所有这些信息都用于缺陷分析。准分子激光器用于在要检查的材料中蚀刻图样。这种激光束用于创建具有高度精度和精确度的微电路特性。激光束可以在精确度高于1微米的材料上产生微小的图样。激光束还可以用来检测材料上无法使用标准显微镜检测到的缺陷。KLA P-2是一种强大可靠的晶圆测试和计量工具，提供准确可靠的结果。该资产非常适合测量半导体和其他材料的电气、光学和其他物理参数，可用于检测材料中的缺陷。它广泛用于半导体工业中，以确保制造过程中所用材料的质量。