二手 KLA / TENCOR P2 #9402045 待售

KLA / TENCOR P2
ID: 9402045
晶圆大小: 8"
Surface profiler, 8".
KLA/TENCOR P2是半导体工业中使用的晶圆测试和计量设备,用于在裸机和封装集成电路上进行晶圆测试和测量,以进行质量控制。该系统由一个"探针"组成,该探针适合模具并进行测量,还有一个基于视觉的综合检查单元,用于识别模具放置错误以及模具和铅架之间的不正确粘合,以及寻找晶片表面的缺陷。KLA P-2机器的设计目标是灵活易用。它配备了多探针技术,允许可调探针运动,主动定心,以及具有各种不同检测协议的基于视觉的检测工具。该资产还设计用于确保稳定的探测,并采用专有的探测驱动器设计,可实现高精度和重复性。此外,基于视觉的检测模型能够识别和精确测量最小的模具和铅架缺陷。此外,该设备还包括可追踪性和探针识别,这意味着测试结果很容易追踪,可以映射回特定的探针。此外,可追踪性功能还可以轻松识别潜在的过程故障,从而为将来的过程改进提供准确的预测。TENCOR P 2还包括一个全面的用户界面,其中包括功能丰富的控制、监控和分析工具。此外,系统还可以连接到验证单元,从而确保测试和测量结果的准确性和可重复性。总体而言,KLA P2是一款功能强大的wafert测试和计量机,它结合了灵活性和易用性,并具有全面的用户界面和可追踪性以及探测器识别功能。其高度精确的探针,加上基于视觉的检验工具和验证资产,确保了测试和测量结果的准确性和可重复性,使其成为质量控制的有效选择。
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