二手 NIKON FX-501F #293620093 待售
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NIKON FX-501F晶圆测试和计量设备是一种用途广泛、功能强大的技术，用于世界各地的半导体制造商和实验室。这项高端技术旨在测量、检查和分析晶圆、芯片和其他半导体元件的表面和内部结构。该系统结合了两种先进技术----一种是二维表面测量单元，另一种是三维模对数据库测量机器----即使使用复杂的晶片和微芯片也能提供准确和可靠的结果。FX-501F使用光学滤镜和镜子的组合来精确测量微观结构的不同地形和几何特征。工具可以检测小表面缺陷，并测量设备表面的宽度、长度、高度和不规则性。资产还能够通过许多不同的方法检测任何非均匀性，包括差分干涉对比度显微镜（DICM）、椭圆偏振显微镜（EM）、光谱峰值识别（SPI）和半导体封装检查（CPI）。模型的高级6轴级允许精确测量和3D成像。舞台在所有三个轴上移动，并由高精度步进电机引导，提供高分辨率和重复性的高速测量。此外，NIKON FX-501F使用先进的光学器件，如激光束扫描，从而提高了分析的精度和速度。该设备还提供了具有重复性和自动化的可靠测试，成为挑战晶圆检测和半导体计量的理想选择。FX-501F还提供了许多数据分析和报告功能,使其成为晶圆测试和计量的高效解决方桉。它具有几种高级分析功能,如统计过程控制（SPC）分析、六西格玛分析、自动表面识别和分类（ASRC）以及自动模具到数据库分析。用户还可以添加带有实时数据的自定义报告,从而最大程度地控制测量结果。总体而言，NIKON FX-501F晶圆测试和计量系统是一种用于晶圆测试、检查和分析的强大而可靠的技术。它提供了高度准确和可重复的结果,以及广泛的数据分析和报告功能。FX-501F具有如此先进的功能,非常适合半导体制造商和实验室。
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