二手 RUDOLPH Reflex TT #293671014 待售

ID: 293671014
优质的: 2012
Wafer defect inspection system 2012 vintage.
RUDOLPH Reflex TT是一种尖端晶圆测试和计量设备,结合了先进的光学和专有的模式识别算法,提供高精度、非接触式的半导体晶圆测试和测量。反射TT系统能够表征半导体晶片的各种表面特征和特性,包括凸点高度、光伏电池尺寸和浆液涂层。此外,它还具有自动图像分析功能,可以快速全面地描述目标应用程序。RUDOLPH Reflex TT单元有多个组件,共同努力在短时间内提供准确的结果。它由晶圆处理程序、机器视觉机、照明工具和模式识别资产组成。晶圆处理程序是自动的机器人模型,用于处理晶圆并将其放置在工作台上。Machine Vision Equipment是数码相机和光学器件的组合,捕捉晶圆的高分辨率图像。照明系统提供必要的照明,以提高拍摄图像的质量。最后,模式识别单元是利用获取的图像生成测试结果的计算机。反射TT工具比传统的测试方法有几个好处。首先,它提供半导体晶片的非接触式测试。这样可以消除在测试过程中损坏晶片的风险。其次,高速成像和模式识别技术使RUDOLPH Reflex TT资产能够提供比手动系统更快速、更准确的测量。此外,该模型具有高达0.1微米的高精度,可确保精确可靠的结果。总体而言,Reflex TT是一种先进、高效的晶圆测试和计量设备。它采用坚固的组件和先进的光学和成像系统设计,以最小的工作量提供高精度测量。此外,它的自动化和非接触能力消除了在测试过程中损坏晶片的风险,从而产生准确和可靠的结果。最后,它的速度和精度使半导体晶片的快速和精确测量成为半导体工业的宝贵资产。
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