二手 SEMCON 1500 #9399219 待售

SEMCON 1500设备是用于测量半导体晶片质量的晶圆测试和计量平台。它是为晶圆试样的快速精确测试而设计的。该系统采用激光干涉仪，提供超高分辨率测量，精度水平超过行业要求。该单元还配备了扫描电子显微镜（SEM），使用户能够以无与伦比的精度观察和测量微结构。这两个元件的结合为分析半导体晶圆创造了强大的平台。1500是一个高效的测试平台，可以精确测量晶圆中存在的任何缺陷，小至5纳米。使用最先进的模块化光学器件，机器的激光干涉仪达到0.2纳米的分辨率。这种精度水平对于识别表面异常和确定缺陷大小尤其可靠。SEMCON 1500工具中的SEM与计算机控制的XYZ扫描阶段集成在一起。SEM让用户不仅能在生动的细节中观察晶片，而且还具有很大的分析能力范围，如定量成分分析、相位分析、纳米尺度测量等。此外,1500资产还具有高级计量软件套件,其中包括自动测量和高级数据分析等功能。此软件允许对晶圆的电气参数进行高效、准确的测量,并可以执行许多任务,如查找短裤、打开、缺陷和进一步分析。SEMCON 1500机型旨在为用户节省时间和金钱。该设备非常易于安装,具有简短的校准过程和直观的用户界面。设备维护也很低,停机时间最短,停机后恢复速度快。该系统采用模块化体系结构设计,允许将来进行扩展和定制。1500单元是一种可靠、准确的半导体测试和计量解决方桉。高分辨率光学、高级软件和SEM的结合提供了无与伦比的精度和效率,使其成为半导体行业的宝贵工具。