二手 GAERTNER L116S #9160082 待售

GAERTNER L116S
製造商
GAERTNER
模型
L116S
ID: 9160082
Ellipsometer 8" Capable PC controlled for measurement Laser wave length 632.8 nm (Helium-Neon - Red) Incidence angles: - 50 and 70 degree's Film thickness: 0 to 60,000 Angstroms Accuracy: +/-3 Angstroms (+/-0.3nm) Repeatability: +/- Angstrom (+/-0.1nm) Power = 110V.
GAERTNER L116S是一种高精度的手持椭圆仪,专为快速精确的材料测量而设计。它提供了质量和薄膜层的精确表征,厚度低至0.3纳米,测量仅用毫秒。它用于许多行业,如微电子、光学、半导体等,为产品开发、质量分析和其他材料提供关键的测量。GAERTNER L 116S使用椭圆偏振仪原理测量样品的光学特性。这是通过将偏振光束照射到样品上并测量由于其反射或折射出样品表面而产生的偏振变化来完成的。椭圆偏振仪所做的这种表征非常快速准确,因为它提供了反射光的幅度和相位,使得能够测定样品折射率(RI)、厚度和其他光学常数。L116S为用户提供了广泛的功能。它采用符合人体工程学的用户界面设计,简化了设置和操作过程。大型板载显示屏可确保清晰读取,而直观的控制按钮则可快速导航和调整设置。通过快速更改某些设置,它的旋转控制旋钮进一步增加了易用性。为了增加便利,该设备可运输,并配有USB端口,允许快速连接到各种计算设备。L 116S还提供高精度的光学测量,分辨率为0.003°,测量噪声低于0.015°。这是通过使用一个特殊的10步滤波器轮来实现的,确保测量精确。椭圆偏光计还具有自动索引校正器,使其能够提供各种材料的精确索引。GAERTNER L116S是一种用于测量材料光学性能的高度可靠和精确的设备。它直观的用户界面、可移植性和广泛的功能使其成为许多行业专业人士的理想工具。它提供了对折射率、薄膜厚度和其他光学常数的精确测量,从而实现了快速分析和高效生产。
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