二手 GAERTNER L-26 #9026210 待售

GAERTNER L-26 Ellipsometer是一种用于测量薄膜光学特性的精密仪器。利用红外激光的偏振光，仪器能够以无损方式精确测量基板的厚度、光学常数（折射率和消光系数）、应力、地形和其他薄膜特征。仪器的灵敏性使其能够以亚纳米精度测量20Å至60 µm之间的薄膜。L-26由激光源、分束器、光纤、样品级和检测设备组成。激光源是在红外范围内工作的He-Cd激光器，以441.6 nm的波长发光。分束器将激光束分成两束，即s偏振和p偏振，彼此成90度。然后,这种光通过光缆发送并入射到样品上,通常使用6°入射。样品安装在一个电动样品级上，该级能够进行角定位和z轴位移。Z轴定位允许测量平面和非平面构型中各种基板上的薄膜。通过GAERTNER L-26的分析系统，从样品表面反射沿s轴和p轴偏振的入射光，反射光束包含偏振椭圆偏振角。然后用这个椭圆形角度来计算厚度、光学常数、应力和其他薄膜特性。L-26还包括一个提供两种主要功能的旋转分析仪单元。第一种是色散测量，它允许在很宽的范围内以不同的时间间隔测量样品的折射率色散的能力。机器的第二种能力是光谱测量，它提供关于样品在特定波长范围内的光学特性的信息。总体而言，GAERTNER L-26是确定各种薄膜和基板光学特性的宝贵工具。这种高精度的工具具有以亚纳米精度测量20Å至60 µm之间任何地方的薄膜厚度的能力。L-26的旋转分析仪资产允许进行色散和光谱测量，并有助于进一步表征应力和地形等特性。