二手 GAERTNER L2W16D.830 #9029443 待售

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GAERTNER L2W16D.830
已售出
ID: 9029443
优质的: 1996
Ellipsometer Missing computer and stage driver (2) wavelength ellipsometers use additional laser sources to analyze difficult films 8" dia. stage with motorized stage No controller 1996 vintage.
GAERTNER L2W16D.830是一种精密扫描椭圆偏光计,提供可靠且易于使用的光学设备来表征薄膜材料的特性。该系统采用波长和角度分辨测量相结合的方法,以极高的精度确定薄膜的真实光学常数。它支持从圆极化和线性极化中收集数据,从而能够全面表征金属、硅、聚合物、半导体和生物材料等光学薄膜。GAERTNER L2W16D.830利用双波长的HeNe激光源提供632.8和543.5nm的波长,光学耦合到精密扫描镜。它还包括一个环形点发生器,以创建一个线焦点,容量可达5mm。这样可以在单个扫描中评估较大的曲面区域。主动控制单元有助于确保聚焦光学器件的扫描运动一致且准确。GAERTNER L2W16D.830的光学机器设计方便,可自动设置测量参数,如光斑尺寸、振动模式和入射角。集成的二极管阵列光谱仪提供低至0.5nm的波长分辨率,在每个波长都可以快速准确地进行多次测量。该工具安装在一个舞台上,舞台上装有计算机控制的XY三脚架,能够快速精确地定位样品。GAERTNER L2W16D.830具有开放、直观的用户界面,可简化参数调整并方便现场数据分析。提供一系列可选软件模块,为数据后处理和专业报告生成提供支持。总而言之,GAERTNER L2W16D.830提供了无与伦比的精确度和分辨率,对薄膜和超薄膜进行光学表征的综合能力。该资产具有自动化的设置、直观的用户界面和专业的软件模块,是分析各种材料的理想选择。
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