二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9189354 待售
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ID: 9189354
优质的: 2005
Ellipsometer
EC-400 Controller
Focused M-2000
Model: X
(500) Wavelengths: 193-1000 nm
Multiple incident angles of 45/60/75° (3 mm x 4.5 mm Spot)
Incident angle with microspot lens: 60° (25x50 Micron spot size)
XENON FLS-350 75W Source
Power module: EPM-222
WATEC WAT-902H2 Video camera
Fixed angle base with rotating compensator
Motorized stage: Tip / Tilt
XY Mapping stage: 200 mm x 200 mm
PC
Operating system: Windows 7
2005 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000是一种先进的光学椭圆仪，可测量薄膜的厚度和光学特性。M-2000利用专利旋转补偿器技术测量薄膜的折射率和消光系数。该仪器具有单色光源，通过两对交叉的线性偏振器传输。当光通过样品时，偏振态发生改变，所得强度的差异与样品的光学性质有关。J.A. WOOLLAM M-2000设计用于广泛的应用,包括薄膜沉积、光学涂层、半导体器件制造和表面科学。M-2000利用低角度光谱椭圆偏振仪（LASE）,可以测量0-15 nm的薄膜,精度优于0.1度。它与独特的多通道探测器系统相结合，为薄膜测量提供了最高的精度和准确性。J.A. WOOLLAM M-2000还具有一个新颖的内部样品环境，用于自动温度控制。这是测量半导体等具有强温度依赖性光学性质的材料时的优势。该仪器的自动旋转补偿系统允许光滑准确地测量薄膜，无论其方向如何。M-2000的内置软件界面允许用户轻松控制和可视化数据测量。软件提供实时反馈，可用于快速诊断问题和调整设置。该软件还支持高级数据采集例程和实验协议的管理。J.A. WOOLLAM M-2000是一种功能强大、用途广泛的仪器，可用于测量薄膜性能，精度和精确度都很高。它结合了先进的光学技术和自动化的数据采集软件，成为各行业研发的宝贵工具。
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