二手 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #9081351 待售

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ID: 9081351
优质的: 2004
Focused ion beam system Electron and ion beams: Yes (2) Gas injection systems: PT, unlabeled Detectors: Secondary Backscatter Chamberscope Main instrument: Semiconductor Stage tilt: Yes Rotation capability: 45° or more Features / addons: Micromanipulator Second gas: Ins 2004 vintage.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于对多种材料的纳米级结构进行成像和分析。它配备了3轴精密级,使其能够同时移动到三个轴,以进行精确的样品定位。此外,显微镜能够提供0.5 nm的横向分辨率和0.3 nm的垂直精度的表面高分辨率成像。FEI Nova NanoLab 200集成了先进的自动化成像和分析软件,使用户能够快速准确地捕获和分析图像。它也是用高效电子枪建造的,它产生高强度的电子束,用于成像到原子级的表面。这种电子枪的设计目的是使由于电子束与样品相互作用而产生的充电效果最小化。PHILIPS Nova NanoLab 200还包括一个自动化的样品激发系统,该系统控制光束的大小和方向,以优化图像对比度,适用于广泛的应用。它还配备了种类繁多的软件包,以协助样品准备、分析和条件优化的各个方面。Nova NanoLab 200还通过其集成的专用电动扫描仪利用复杂的计算机扫描操作。该系统允许沿着样品的所有轴线进行自动扫描,并能够控制电子束的曝光时间和亮度,这是显微镜成功操作成像的关键组成部分。最后,PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200具有广泛的附件,旨在增强用户的体验。这些附件包括一个简化图像捕捉的显微镜控制器,一个快速分析图像数据的图像分析程序,以及设计用来帮助操纵标本环境的各种操纵器,如持有者、顶盖、标本持有者和蒸气压力操纵器。总而言之,FEI Nova NanoLab 200凭借其精密的扫描电子显微镜,是研究纳米级结构和材料的绝佳选择。它提供了高精度、先进的自动化成像和分析系统,以及各种工具和附件,可用于优化操作。凭借其多功能性和经济性,它是任何研究者的理想选择。
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