二手 ACCENT Q7 #9193536 待售

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ACCENT Q7
已售出
製造商
ACCENT
模型
Q7
ID: 9193536
Overlay measurement system.
ACCENT Q7是一种综合性的掩模和晶圆检测设备。它提供了成像和审查功能,以快速识别和诊断半导体掩模和晶片中的各种缺陷,从晶片加工的早期阶段到最终生产线。其先进的成像系统采用了最新的数字图像处理技术,使其能够以最高的精度检测甚至最微小的缺陷。此外,它的自动特征识别和增强功能以快速和经济高效的方式提供了准确的结果。Q7具有高分辨率光学成像单元和以10 Mpixel分辨率运行的自动缺陷检测机。其晶圆扫描仪使用双光束CCD相机,提供3.9 um的最大放大倍率,像素大小只有1.23 um。这允许最大精度和原子分类能力。ACCENT Q7还具有交互式用户界面,允许用户轻松识别和分类缺陷。该工具提供了许多缺陷分析功能,并且与mostmask和wafer处理程序兼容。其缺陷遏制能力对于检测连续线缺陷、残余Nils位点、过渡边界、锡须、空隙等缺陷特别有用。它还能够识别晶片阵列放置过程中的不良光学对准。Q7的检查和审查功能提供了WIP的快速包装,消除了劳动密集型手动检查任务。此外,它还具有系统集成功能,能够将资产组件与企业范围内的联合检查、实验和分布式网络中的其他任务集成在一起。ACCENT Q7是一个可扩展的模型,允许根据需要增加吞吐量。它最多可以配备三个晶片扫描仪和活页夹板,最多四个晶片审查通道,以及最多八个高速、高解析度相机。其先进的软件符合半导体行业标准,可以根据您的特定需求进行定制。Q7是可靠而强大的掩模和晶圆检测设备,是半导体制造应用的理想选择。它的自动化特征识别和增强功能可以帮助确保半导体生产过程的质量和可靠性,其可扩展性和集成能力可以帮助降低检查成本。
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