二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178343 待售
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已售出
ID: 9178343
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Wafer inspection system, 12"
Software version: 7.1.0.0
Hardware configuration (Fab):
Main system:
Main body
12" FOUP System:
(2) Brooks fixload
Handler system:
(1) Wafer handing robot
Process Chms:
(1) Inspection unit
(1) Operator console
Hardware configuration (Subfab / Auxilliary Units):
IPU (Images processing unit)
Fan box (Blower)
UPS
A5000 Configuration:
FOUP: Shin-Etsu
Process gasses:
Process gas 1: PIVAC
Process gas 2: CDA
Wafer / Cassette handling:
Wafer type: 12" Semi standard notch
FOUP Type: Shin-Etsu
(25) Cassette wafers
(2) Cassette storages
Fork variable pitch: Twin fork
Boat / Pedestal
(1) Production wafer
System controls:
Signal tower colors: G/G/R/B
General pressure display units: Pressure Mpa
Host communications:
Host communications: User host computer
Information transfer protocol: GEM-SECS
Facility electrical equipment:
2-Line power input
200 VAC, 3 Phase
CE Marked
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000是一种面罩和晶圆检测设备,旨在帮助减少产品缺陷。它能够检测到在7纳米范围内的模式对齐和覆盖面罩和晶片的异常。这样可以快速可靠地进行生产检查。系统能够检测到诸如重复错误、接触问题或导致屈服问题的缺陷。它还有助于检测一纳米以下远场焦点的模式对准误差。该单元具有集成光束倾斜监视器,因此所有测量结果都可以追溯到相同的原点。这确保了即使在测量多个晶片时也能进行一致的检查。TSK Win-Win 50-A5000具有集成的图像分析功能,可轻松比较测量的图像和目标图像,以快速检测缺陷。它还具有步骤和重复图像捕获选项,可实现高速可重复测量。该机器有一个快速激光自动对焦工具，有助于保持成像精度。它还有一个先进的室内集成相机，实时捕捉图像。ACCRETECH双赢50-A5000允许在单个晶片上同时执行多个测量,有助于缩短生产周期时间并提高工艺效率。它拥有先进的照明资产，有助于减少测量所需的时间。该模型还与几个工业标准软件平台兼容，这有助于使其更加高效。它还具有灵活性和可扩展性,可以适应任何尺寸的制造环境。总体而言,Win-Win 50-A5000面罩和晶圆检测设备是一种极其可靠和高效的工具,有助于减少生产缺陷,同时提高制造效率。它是任何制造过程的宝贵补充。
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