二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9163072 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50是一种半自动掩模和晶圆检验设备，用于半导体工业中使用的晶圆的表面检验。该系统适用于标准CMOS设备和高端内存IC。它能够提供高速检查，以检测微小缺陷的形式，颗粒，划痕，和各种其他异常。该单元由一个交互式用户控制监视器组成，该监视器插入到机器主机上。它配备了高精度的XY级和高分辨率的光学工具，能够在晶圆和相机之间提供260mm的最大工作距离。这样可以精确定位晶片以进行检查过程。还为显微镜透镜提供了高达15°倾斜能力±的可变角度，方便检测由于晶圆表面曲率可能肉眼看不到的缺陷。TSK Win-Win 50利用TSK VisionTools Inspection Asset方便检测小至0.3微米晶圆上的缺陷。软件包括缺陷编辑功能,允许快速准确地编辑检测到的缺陷,从而加快流程流程。它还提供了高级算法,可以按类型、大小和位置准确识别缺陷。该模型还包括"设备特性"软件包,该软件包允许自动测量设备几何,如表面宽度、线宽和螺距。这样可以轻松评估设备性能,并找出需要解决的缺陷以提高设备质量。ACCRETECH WIN WIN 50设计为在各种标准洁净室环境下运作，并设有数个内置在设备中的空气净化系统，为系统运作和晶圆检查提供洁净空气。凭借直观的用户界面和易于使用的特点，这一单元非常适合满足先进半导体生产的需求。