二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9177844 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50是用于半导体生产的Mask and Wafer Inspection设备。它旨在对各种半导体产品的关键特性进行准确、高效的检查。该系统配备了高精度的数字成像显微镜，使其能够准确识别视野中的缺陷和粒子污染。TSK Win-Win 50包括一个快速准确的光学自动聚焦单元，可以在整个检查过程中保持固定聚焦图像。显微镜使用多角度偏振器，减少背景噪声，增加视场对比度，实现更高分辨率的成像。ACCRETECH WIN WIN 50提供了许多增强其性能和准确性的功能,包括获得专利的CCD（电荷耦合器件）图像处理机,可以区分不同大小的粒子和斑点。它还具有独特的倾斜补偿功能,可自动调整显微镜视图,以补偿遮罩和晶片的倾斜角度方向,使工具即使样品未完全对齐也能准确识别缺陷。它还能够一次精确测量多达八个点，允许用户识别复杂模式中的缺陷。Win-Win 50由先进的FPGA （Field Programmable Gate Array）处理器提供动力,它允许实时信号处理和图像处理。它还具有板载PC和显示器,使用户能够在检查过程中轻松查看图像和结果。TSK WIN WIN 50每小时最多可执行1200次检查,使其成为最高效的系统之一。此外，其用户友好的界面和坚固的构造使其适合在实验室和工业环境中使用。ACCRETECH Win-Win 50不仅准确而且可靠，让用户确信从资产中获得的所有结果都是准确的。其特点和精度相结合，被认为是市场上最好的晶圆和掩模检测系统之一。