二手 ADE / KLA / TENCOR MicroXAM #9189675 待售

ADE/KLA/TENCOR MicroXAM是一种综合性晶片测试和计量设备，对半导体制造中使用的晶片性能提供快速可靠的分析。该系统允许测量和表征晶圆表面的各种参数,包括层厚度、表面均匀性和峰值面积密度,以及其他对制造过程重要的参数。ADE MicroXAM围绕自动晶圆处理平台组织。该平台可实现自动拾取和放置处理以及精确的晶片定向，以精确测量任何晶片参数。自动晶片处理程序由两个晶片载波组成，这些载波在整个单元内移动，从而可以同时对多个晶片进行有效的测试、计量和分析。机器还提供了一套高级计量工具。这些工具允许对晶片表面进行非接触式光学测量和表征，如层厚、峰值面积密度和表面均匀性。高级算法和软件控制的自动对焦有助于确保准确和可重复的测量结果。该工具还提供先进的数字成像功能,允许进行详细的成像和分析,并支持X射线分析和成像。此外，KLA MicroXAM配备了一套数据采集和分析工具，可以快速准确地处理和分析测量结果。此外,资产还提供了多种数据可视化选项,可帮助快速识别和分析关键组件或晶圆特性。TENCOR MicroXAM是确保半导体制造过程一致性和准确性的宝贵工具。通过提供快速、可靠的晶片测量和分析,该模型有助于减少代价高昂的制造误差并最大限度地提高产量。