二手 ELECTROGLAS 4085X #19607 待售

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製造商
ELECTROGLAS
模型
4085X
ID: 19607
晶圆大小: 8"
Automated Prober, 8" High volume cassette to cassette wafer prober Pattern recognition system.
ELECTROGLAS 4085X prober是一种先进的探测和测试设备,设计用于精确测量、测试和分析半导体器件。4085X是一个完全集成的系统,可提供高性能探测功能和自动测试分析,并提供复杂的诊断帮助。它通过利用高速探测、高级故障分析和映射以及自动DRC/LVS规则检查,旨在提高产量并降低测试成本。ELECTROGLAS 4085X基于ELECTROGLAS独有的自动定位功能,可实现快速的模具放置和精确的对准。其闭环控制单元提供了快速、准确的定位控制,而其集成的自动填充和调整机则确保了精确的并行。它的双头胶带测量提供了更高的精度,而其集成的自动负载增强确保了模具面的最佳对准。4085X的探测和测试系统具有高速、高分辨率的互连工具和先进的探针对准资产,包括基于扫描的测试、热成像和快速故障定位等功能。其先进的故障分析模型提供了故障位置的图形表示,其低功耗、高分辨率的测试结构使得设备结构的综合测试成为可能。ELECTROGLAS 4085X还提供全面的诊断支持设备,具有智能和基于规则的诊断分析和报告功能。它提供了电路级别、模具垫层和ESD级别的详细信息,以及内置诊断和规则检查。此外,它的自动化测试排序系统允许对单个基板和设备进行全面测试。4085X是一个高度先进的半导体测试和分析单元,旨在精确测量、测试和诊断半导体器件。其独特的自动定位和对准系统、先进的探针对准和诊断支持系统,以及低功率、高分辨率的测试结构,使其成为对半导体器件进行优越、经济高效的测试和分析的理想仪器。
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