二手 JEOL 2000EX II #9045377 待售

JEOL 2000EX II扫描电子显微镜（SEM）是一种多功能、高性能的仪器,旨在提供各种样品类型的高分辨率成像和分析。JEOL 2000EXII SEM使用电子柱，产生一束空间分辨率优于1纳米的电子束。该光束被定向到样品表面，并在通过后被收集。这些收集的信息随后被用于构建一个计算机生成的样本纳米特征图像。2000 EX II提供了一个有碰撞室的成像室，允许它捕获通过样品的电子。这种碰撞室使得SEM非常适合成像无机材料，如半导体，晶体和多晶材料，以及陶瓷和金属。其纳米分辨率提供了样品细节的微观形态的清晰图像。2000EXII还提供了广泛的分析能力。仪器的能量色散X射线光谱仪（EDS）允许用户识别样品中的元素及其浓度，提供有价值的元素分析。EDS还配备了双工作电压，允许对具有原子分辨率的样品进行高分辨率分析。机载EDAX反向散射电子探测器（BED）允许用户测量结晶度、相组成和氧化态，而仪器提供的半定量分析能力为样品提供了快速、方便的表征。JEOL 2000 EX II灵敏高效，为用户提供出色的成像和分析结果。其高分辨率成像，加上其先进的分析能力，使其成为许多研究和材料表征应用中的宝贵工具。它兼具多功能性、准确性和性能,使2000EX II成为各种领域用户的理想选择,从半导体工程到材料研究。