二手 JEOL JWS 7550 #9028224 待售

JEOL JWS 7550
ID: 9028224
Wafer inspection Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7550是一种扫描电子显微镜(SEM),用于材料的高分辨率成像和分析分析。它是一种电子显微镜,利用电子束产生样品的放大图像。JWS 7550是一款具有专用电子光学器件的野外发射枪的中压SEM。这种技术的组合以高放大倍数提供超高分辨率成像,用于生成材料微观结构的详细图像。JEOL JWS 7550具有以电子为重点的系统,包括数字反馈系统,以提高分辨率和对比度。它有一个能量色散X射线(EDX)探测器,用于样品的元素分析,在28mm的工作距离上有150 mm的全视野。这使得在成像过程中可以有广阔的视野和宽敞的空间放置标本。JWS 7550在1-30 kV的加速电压下工作时提供1.7 nm的出色图像分辨率。它有一个超高真空(UHV)腔室,能够实现低真空成像模式,有助于降低在分析过程中污染样品的风险。SEM采用高精度的电柱驱动,对样品级进行无振动、精确的运动。这大大减少了图像采集过程中的像差。它还采用了能量过滤技术,从而提高了信噪比,从而产生了更高质量的图像。此外,JEOL JWS 7550利用最新的图像去光束机制(Image Deblurring Mechanism,IDM)利用入射光束信息来减少中等稀有化合物空间变化造成的模煳。系统配备了自动导航图像缝合,使其能够在单个高分辨率图像中捕捉整个标本视野。JWS 7550是为工业和学术研究而设计的功能强大、用途广泛的扫描电子显微镜。JEOL JWS 7550结合了高分辨率的野外发射枪、EDX功能、全面的舞台驱动机构和最新的IDM来进行图像除错,为各种样品类型提供了先进的分析能力。
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