二手 ACCRETECH / TSK / XANDEX B010 #9188540 待售

ACCRETECH/TSK/XANDEX B010是一种晶圆测试和计量设备，设计用于对半导体晶圆进行精确和可重复的测量。它兼具激光干涉测量和电子束传感技术，提供一套全面的晶圆级测试能力。TSK B010利用激光干涉仪精确测量晶圆尺寸。用干涉仪得到的结果精确度为纳米级，使其成为用于MEMS、Nano Electronics等精密零件等应用时测试晶片的理想选择。它还具有3维成像模式，允许它测量和分析晶圆结构和形状，提供比传统方法更精确的数据。XANDEX B010还提供了一种用于晶圆测试的高性能电子束传感系统。这为精确的轮廓、位移和薄膜厚度测量提供了额外的功能。EB单元还具有一个真空机，用于维持低样品污染水平和减少由于充电或杂散电子而产生的伪影。要从ACCRETECH B010获取测量值,该工具通过集成以太网连接连接到计算机。此外,它还提供了用于分析和归档测试数据的可选软件包。为确保测量一致,B010采用了全面的控制功能来调节样品温度、定位和曝光。此外,它的设计高度可配置,允许用户集成特定的传感器和测试系统以满足他们的需求。总之，ACCRETECH/TSK/XANDEX B010是一种高度精确、可重复的晶圆测试和计量资产，适用于半导体行业的各种应用。其精密的激光干涉测量和电子束传感技术实现了精确的测量，而集成的以太网连接和可选的软件包使分析和归档数据变得容易。TSK B010还提供可配置的控制功能,以确保一致的测量结果,从而获得可靠的结果。