二手 ACCRETECH / TSK / XANDEX X1412 #9029340 待售

ACCRETECH/TSK/XANDEX X1412是一种晶圆测试和计量设备，用于检查、分析和测量半导体晶圆。该系统旨在提供准确和可重复的结果,并具有较高的吞吐量生产率。TSK X1412提供了一系列创新的选项,包括单一数量的睾丸、各种负载板和针对特定应用程序的各种配置。该单元包括一套14种工具，包括计量、光电、电气、晶圆制图、深度剖析、X射线分析和表面制图系统。计量机由高分辨率显微镜组成，它提供晶圆表面的详细图像，并允许对缺陷进行动态评估，从而提供详细的检查数据。还提供芯片缺陷或故障分析的检查。显微镜能够检测亚微米结构，如最常见的电气和机械测试。它还能够以最高的精度测量角度和距离，从而能够对晶圆的应变分布进行详细的研究。XANDEX X1412光电工具由高温计和光谱仪组成，用于测量晶圆的反射率和发光度等材料特性。这一资产使得能够检查有机LED芯片和其他光电材料，以及分析不同LED的光谱模式。电气模型允许使用各种测试探针、扫描和测量进行复杂的电气测试。设备测量晶体管、电容器等半导体器件的电性能，也验证集成电路的功能。X1412还为先进的半导体制造提供晶圆映射。对晶圆样本的高分辨率图像进行像素对特征空间分布的详细评价。该信息用于优化工艺设计和生产.深度剖析系统提供了半导体晶圆地形的完整分析。该装置用于检测污染物、缺陷、异常和其他令人感兴趣的特征。测量结果可用于表征半导体器件中的表面和块状材料并优化加工。最后，ACCRETECH X1412可以用X射线分析机进行升级，允许检测晶圆样品中的颗粒、裂纹和空隙等缺陷和杂质。该工具用于原料晶片的高质量控制，以保证产量的提高和成品质量的全面提高。总体而言，ACCRETECH/TSK/XANDEX X1412晶片测试和计量资产是检测、分析和测量半导体晶片的先进可靠模型。它提供全方位的测试功能,包括高分辨率图像、可靠的电气测试以及检测杂质和缺陷的能力。该设备非常适合高吞吐量测试和计量应用。