二手 FOUR DIMENSIONS 280SI #9180333 待售

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ID: 9180333
Four point probe station Measuring bulk wafers Resistivity tester for measuring bulk wafers Conductive films: Metals EPI Alloys Diffusion Ion implantation Polysilicon Measurement range: 1E-3 to 8E5 Ohm/sq Up to 200 mm in diameter 156 mm X 156 mm Platen Speedy motions System backup diskettes Vacuum hose Ceramic probe conditioner Manual (On CD) Automap Analysis software mapping package PC Computer system: 2GHz CPU 250GB Hard drive 1GB RAM CD ROM Drive HP Deskjet color printer 19" FPD Monitor Precision probe head Software on Windows 7 Calibration set (CAL-1 to CAL 5).
FOUR DIMENSIONS 280SI是为半导体晶圆设计的晶圆测试和计量设备。它是一个集成系统,是最先进的晶圆计量平台。它是晶圆测试和计量应用在研究和生产环境中的理想解决方桉。280SI使用了一种名为"光栅束分析"的专利技术,该技术对整个晶片的多个参数进行了高度精确的2D和3D测量和分析。这有助于优化晶片工艺并验证其关键尺寸和参数。该单元支持以下晶圆测量:光光、光学成像、表面地形和接触探针技术。它能够用干涉测量和光谱技术以极高的精度和精确度测量多层的厚度和特征大小。此外,它还拥有一台4D成像机,以子波精度测量深度和三维地形。FOUR DIMENSIONS 280SI工具带有数据分析和处理算法,可以对晶圆进行全面表征。它还设有一个大触摸屏与操作员互动。通过与中央数据库连接,操作员可以保存和分析获取的数据。该资产具有标准的PC连接器,允许用户将280SI集成到其现有网络中并在分布式环境中使用。这允许跨模型兼容性、集成以及高级数据共享和分析。该设备具有多种接口,易于配置,以适应任何操作环境。系统坚固的机械设计可确保耐用性,并可支持8英寸以下的晶片。其直观且用户友好的GUI旨在最大程度地减少机器停机时间并优化操作。FOUR DIMENSIONS 280SI提供卓越的高速精度和精确度,非常适合任何计量操作。凭借其创新的技术和特点,它是终极的晶圆计量平台,能够提供可靠和准确的结果并增加吞吐量,用于研究和生产目的。
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