二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX NC 110 Omnimap #69367 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimap是为半导体晶圆的测试和计量而设计的精密工具。此设备具有多种功能,是希望执行高级晶圆测试和计量的行业专业人员的理想选择。KLA NC 110 Omnimap系统构建在KLA成像平台上,该平台包括TomoVision TM max_chroma成像技术,该技术由一个完全集成、最先进的计算机单元提供支持。利用其高分辨率成像能力，TENCOR NC 110 Omnimap设计用于检测和测量各种晶片上的表面污染和缺陷颗粒。该机还具有四波长椭圆偏振、地形、光谱等先进光学特性。此外，该工具能够测量晶圆上极薄膜的厚度，使其成为晶圆计量的强大且高度精确的工具。NC 110 Omnimap资产的设计采用了多种用户友好的功能和直观的软件,以简化使用并提高效率。该模型能够链接到外部系统,允许用户跟踪、存储和比较来自多个工具的测量数据。此外,集成软件包提供了快速、方便的数据报告和分析工具访问。这使得它成为晶圆制造和质量控制的理想解决方桉。PROMETRIX NC 110 Omnimap设备也非常可靠,支持远程诊断和故障排除。它还能够检测小缺陷并进行无损检测，使其适用于广泛的应用。KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimap具有先进的功能集和强大的检测功能,是需要高精度晶圆测试和计量的行业的理想选择。