二手 ADE / KLA / TENCOR AWIS 3100 #9148343 待售

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ADE / KLA / TENCOR AWIS 3100
已售出
ID: 9148343
晶圆大小: 6"-12"
X-ray spectrometer, 6"-12".
ADE/KLA/TENCOR AWIS 3100是一款顶级的掩模和晶圆检测设备,设计用于对用于开发和生产集成电路、封装等产品的半导体器件进行高分辨率检测。ADE AWIS 3100将多种先进的成像、计量和模式识别技术结合到一个单一的、集成的平台中。该系统具有高分辨率成像工作站,能够以卓越的精度捕捉极小设备的图像。它还配备了先进的SRAM内存芯片分析仪,用于检测片上SRAM细胞的缺陷。SRAM内存测试功能使该工具对于分析可能存在时序、逻辑和功能缺陷问题的组件非常宝贵。KLA AWIS 3100还具有先进的缺陷映射和报告技术,使工程师能够快速定位和识别掩码和晶片中的潜在缺陷。该单元可以标记缺陷位置并提供有关可能问题的详细报告。可以自定义这些报告以包括缺陷类型、其位置和其他相关详细信息等附加信息。这使得工程师能够快速评估各种缺陷,而无需长时间费力的测试。该机进一步配备了先进的光学缺陷映射能力,使其即使在不均匀照明的情况下也能快速准确地检测到口罩上的缺陷。这种能力使得能够在制造前检测产品的缺陷,从而提高成品的总产量和质量。最后,TENCOR AWIS 3100的设计采用了用户友好的图形界面,无论其技术背景如何,都可以方便地为众多工程师和技术人员使用。因此,它是需要高分辨率和准确性检查的半导体制造工艺的理想选择。
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