二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9183764 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是为纳米材料表征而设计的高分辨率X射线成像设备。该系统结合了ADE超高分辨率X射线光源和先进的光束线光学技术，以及KLA纳米镜剖面仪。这两项技术共同努力，产生了前所未有的纳米材料图像和测量结果。TENCOR为其X射线源提供了强大的纳秒脉冲200千伏电子注射器和束线光学器件。光束光学器件可提供高达纳米分辨率的极高分辨率图像。这允许对单个纳米结构进行详细的结构和元素分析。该单元还包括用于X射线成像的电荷耦合器件（CCD）探测器，以及用于检测来自离子相互作用的电子的多通道板探测器。ADE/KLA/TENCOR纳米镜Profiler是ADE NanoMapper中使用的第二种技术。纳米镜提供连续的纳米表面地形测量，使机器能够测量表面积、粗糙度和显微镜等一系列表面参数。这与X射线源相结合，创建了纳米变质和表面变量的高度详细的图像。除了成像之外，KLA NanoMapper还结合了ADE专利的扫描电子显微镜（SEM）技术，用于纳米尺度特征的详细分析。该技术包括先进的电子显微镜，与高灵敏度电子探测器结合，获得纳米结构形态特征的精确图像。这为用户提供了进一步分析和比较的数据。该工具还设计为高度便携式,允许用户在任何环境范围内拍摄纳米结构的快照。这使得它非常适合在各种条件下表征纳米材料。总体而言，NanoMapper是为纳米材料表征而设计的先进X射线成像资产。其ultral-high resolution X-ray source, beam-line optics, CCD detectors, Nanoscope Profiler, and Scanning Electron Microscopy的组合，创造了一个独特的模型，让使用者可以获得无与伦比的图像和高携带性的纳米结构测量。