二手 PHILIPS SD-3400 #9163651 待售

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製造商
PHILIPS
模型
SD-3400
ID: 9163651
优质的: 1993
Ellipsometer Plasmos SD series thin film measurement system Nulling method / Rotating analyzer method Includes: Intergrade cleanroom compatible construction compact system Stainless steel frame With stainless steel perforated sheet metal covers Laminar flow-hood with integrated lighting 1993 vintage.
飞利浦SD-3400是一种先进的椭圆仪技术设备,用于表面表征实验,如光学薄膜建模。SD框架使用单色偏振器和检测器来测量光的电场矢量的两个参数:振幅和相位。这两个参数都是在一个入射角范围内测量的,这样可以映射材料的光学特性。飞利浦SD 3400配备了提供632.8 nm波长的低强度HeNe激光源和CCD探测器。SD-3400可以使用多种样品类型,包括但不限于以折射率、光学涂层厚度或内膜层为特征的薄膜。此外,SD 3400还可以测量多层材料,这是材料光学表征的首选测量目标。PHILIPS SD-3400的尖端设计体现在它结合了具有孔径设定、低机械应力利用率和电子聚焦的超精确5轴测角仪。此外,其最先进的镜面安装技术可提供更大的倾斜范围和更长的寿命,以防止测角仪光学元件的调整。PHILIPS SD 3400还提供了广泛的工艺和分析软件,以获取样品材料的表面参数,包括高级数据处理和呈现功能,高级光学建模,以及设计定制实验的能力。SD-3400是一种极其精确的材料表征工具,其扫描线性精度为0.001°。这款高品质的设备为其应用程序提供了高稳定性、PC兼容的数据处理用户界面以及功能强大的光学监控系统,可确保更多的结果。此外,它的设计还提供了多种可选配置,包括隔振、双通道测量和降噪。SD 3400是分析材料、测量光学特性和表征薄膜的理想工具。其尖端的设计和最先进的功能确保了卓越的效果,使其成为一系列应用程序中非常高效的设备。
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