二手 PLASMOS SD 2002 #16921 待售

PLASMOS SD 2002 Ellipsometer是一种光学膜表征设备，以无损准确的方式测量薄膜的厚度和光学常数。它被用于半导体加工，LCD生产和光学涂层材料分析。SD 2002采用轻便易用的MgF2分束器。它有一台带有触摸屏界面的板载计算机,可引导您完成读取所需的步骤。该系统能够自动测量厚度为0.2nm的薄膜,并且可以测量厚度为1.2 μ m的薄膜。它也有0到70度的大动态范围。该设备的数据存储容量高达1000个读数,可以将数据下载到USB驱动器中进行进一步分析。该机具有从190 nm到1050 nm的全波长操作范围,从而可以测量厚度低于1 nm的薄膜。它有一个10mm的光束点，非常适合小规模结构的测量。PLASMOS SD 2002具有广泛的样品持有者，专为平面、V型凹槽样品和阶梯式样品等不同应用而设计。这些样品支架使得使用相同的工具测量不同的薄膜厚度变得容易。SD 2002完全自动化,使测量过程高效、快速、准确。资产还包括数据分析和可视化工具,允许您以标准化格式获取、分析和存储数据。它包括用于报告、模型优化以及绘图和绘图功能的工具。设备还包括一个用户定义的图书馆，在研究应用中非常有用。该库允许用户存储常用的物理常量和样本类型，可以将其加载到系统中，以便于使用。PLASMOS SD 2002是一种创新的光学胶片表征工具，旨在简化胶片表征的过程。它非常适合半导体加工和LCD生产，可靠且用户友好。