二手 RUDOLPH FE 4 #9128266 待售

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RUDOLPH FE 4
已售出
製造商
RUDOLPH
模型
FE 4
ID: 9128266
晶圆大小: 8"
优质的: 1995
Film thickness measurement system, 8" 1995 vintage.
RUDOLPH FE4是一种最先进的自动化测量设备,设计用于测量具有广泛斜角和s偏振角配置的薄膜厚度和光学常数。FE4是一种快速可靠的薄膜厚度和光学常量测量工具,可以以0.001 nm的高精度运行。它利用先进的硬件和软件技术实现了较高的准确度,使用户能够快速准确地测量薄层。RUDOLPH FE4采用4460双折射3英寸椭球测量仪,配有高精度压电角度扫描仪,确保了广角测量范围。这种配置还具有很大的灵活性,因为系统可以在任何大小、形状和方向的基板上测量薄膜。角度扫描范围还允许在复杂弯曲基板上测量薄层时具有更高的精度。FE4单元由直观易用的PC软件包控制,每层都有预定义的测量协议。该软件能够测量任何厚度的薄膜,包括尺寸小于1纳米的薄膜。还可以确定薄膜是否均匀。该机配备了先进的偏振调制技术,使得能够在几毫秒内确定光学常数和薄膜厚度。它配备了两个专门设计用于在一次扫描中确定光学常数和薄膜厚度的专用测量系统。RUDOLPH FE4包含了能够提供数据实时重新计算的高级数据处理软件。重新计算过程考虑到由于环境变化而导致的测量误差,如灰尘、湿度和温度,以及由于薄膜堆栈光学缺陷造成的误差。这样可以防止数据丢失并提高测量的可靠性。总之,FE4是一种高效、可靠、用途广泛的薄膜厚度和光学常量测量工具。它为用户提供了广泛的角度测量范围,先进的数据处理软件,以及在复杂基板上测量薄膜厚度的能力。这些特性使得RUDOLPH FE4成为任何薄膜厚度测量任务的理想选择。
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