二手 RUDOLPH FE III #9063426 待售

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RUDOLPH FE III
已售出
製造商
RUDOLPH
模型
FE III
ID: 9063426
晶圆大小: 2", 3", 4"
优质的: 1994
Focus ellipsometer, 2", 3", 4" OS2 Operating system issue Currently decommissioned 1994 vintage.
RUDOLPH FE III是一种先进的光学椭圆仪,用于表征表面和薄膜。它可以量化光学特性,如折射率、消光系数和表面厚度以及薄层和多层。它将液晶调制与红外成像光谱相结合,以前所未有的精度和多功能性获得表征结果。RUDOLPH FEIII能够获取中红外至近紫外波长的光谱数据,非常适合广泛的工业和研究应用。它有一个计算机控制的测量室,有五个运动轴,允许在平面或曲面上进行精确的自动测量,而无需重新校准。此外,头部的倾斜运动补偿可确保无论表面方向如何,都能获得精确的测量结果。该仪器还包括超灵敏探测器,可最大限度地减少对激光功率的需求,使其对于表征薄膜和细腻表面极为有用。它配备了自动化的、用户定义的数据采集程序,并且可以使用基于Windows®的直观软件包轻松编程。FE-III被优化用于评估粘合剂、涂料、涂料和其他光学活性物质的表面性能。其敏感的红外探测器也可用于量化折射率、消光系数等半导体薄膜的光学性质。它是光学、材料工程和半导体技术领域研究的宝贵工具,非常适合用于质量控制、光学计量和薄膜研究实验室。RUDOLPH FE-III可以超高精度测量广泛的光学参数。它的自动化五轴设计简化了校准过程,并且倾斜运动补偿最大程度地减少了测量平坦或弯曲曲面时重新校准的任何要求。其超灵敏探测器允许极低功率激光估计,使得该工具非常适合薄膜表征。该仪器可轻松与其他分析和科学仪器集成,其直观的基于Windows®的软件使其编程变得简单。FEIII是广泛的工业和研究应用的理想工具,从光学活性表面表征到半导体薄膜分析。
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