二手 RUDOLPH FE III #9100481 待售

RUDOLPH FE III是一种椭圆偏光计，一种通常用来测量薄膜和基板光学特性的装置。这种先进的工具能够以纳米精度测量薄膜的光学特性，广泛应用于广泛的科学应用，包括光学、电子、材料科学和生物学。RUDOLPH FEIII的基本操作是通过使用椭圆偏振现象来测量薄膜的光学性质。这是一种光学方法，其中偏振光入射到物体上，并测量反射光的性质。然后利用反射光偏振角和强度的变化来计算样品的光学常数。FE-III具有高性能特性，能够精确测量薄膜性能。这些功能包括高分辨率极化仪、MTECA CCD探测器、专门设计的光路和直观的用户界面。FEIII还包括两个集成腔室，一个光路稳定控制系统，以及一个允许在450-1000nm范围内测量胶片的长波长系统。RUDOLPH FE-III能够广泛的椭圆偏振应用。该装置的测量能力包括薄膜厚度和光学常数的测定，除了分析单层、多层和多层表面的折射率。FE III还具有实时捕获、分析和可视化的能力,从而能够可靠地获取和报告数据。简而言之，RUDOLPH FE III是一种先进的椭圆偏光计，可用于高精度测定薄膜和基板的光学性质。它的长波长范围、直观的用户界面和高性能特性使其成为科学和工业应用不可或缺的工具。