二手 KLA / TENCOR 300DFF1P #9256650 待售

KLA/TENCOR 300DFF1P是一种先进的晶圆测试和计量设备，旨在为半导体行业提供无与伦比的精度和质量保证。该系统利用三维自动光学检测技术，以极高的精度检测和测量晶片表面的缺陷。它还包括晶圆缺陷校正过程，包括激光光刻、深反应性离子蚀刻（DRIE）和化学机械抛光（CMP），以有效解决发现的任何缺陷。KLA 300 DFF1P利用高速成像平台，可以产生分辨率高达0.14微米的晶圆图像。大功率数字信号处理和信号校准能力大大扩展了单元的灵敏度和动态范围，使其能够检测到非常小的缺陷并测量其尺寸。此外,通过实时在线缺陷检查过程进一步增强了机器的计量能力,该过程扫描每个扇区并隔离诸如缺失或移位结构、线路桥接或颗粒污染等表面不规则性。TENCOR 300 DFF 1P还为用户提供灵活的数据管理能力，让他们能够远程存储和访问自己的测试数据和结果。该工具包括集成的报告和文档选项,可轻松生成晶圆报告并创建任何测试结果的详细记录。该资产的用户界面为用户提供了一个高度直观的导航结构,并且易于访问所有特性和功能,从而最大限度地减少了停机时间并提高了工作效率。总体而言，300 DFF1P是一种用途广泛、功能强大的晶圆测试和计量模型。其出色的成像、计量和数据管理功能使其成为寻求可靠和准确性能的任何半导体制造设施的理想选择。凭借其先进的功能和易于使用的接口,KLA 300 DFF 1 P旨在确保产品质量、降低成本和最大化效率。