二手 FILMETRICS F20 #293621612 待售

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ID: 293621612
Thin film analyzer Wavelength range: 380-1050 nm Film thickness measurement range:15nm - 70 μm.
FILMETRICS F20是一种晶圆测试和计量设备,设计用于在广泛的材料和发射角度上对薄膜厚度和光学常数进行高精度、无损测量。该系统利用一组高级算法,能够在几秒钟内进行准确、可重复的测量,从而能够快速轻松地表征对设备性能有直接影响的设备层和参数。FILMETRICS F 20单元由两个主要组件组成:测量头和控制台.测量头包含一个宽广的光源,用于测量晶圆样品在发射角度范围内的光学特性。控制控制台提供了一个用户友好的界面来控制样本位置和选择,以及数据输出选项。F20机有一系列附件可供进一步方便样品测量,包括透镜、棱镜、滤镜和其他光学元件。F 20工具包含了专利的光谱椭圆偏振检测(SED)资产,该资产使用光学干涉来精确测量样品的厚度和光学常数以及表面粗糙度。这样可以在几秒钟内进行精确和可重复的测量,同时无需销毁样品和处理样品。SED模型还能够精确检测和跟踪薄膜计量和其他材料参数。FILMETRICS F 20设备提供了一系列数据分析选项,以帮助用户准确计算所需参数并可视化结果。该系统可以进一步提供流行格式的数据输出,包括ASCII、CDF和二进制,以便于数据共享和分析。FILMETRICS F 20单元能够为包括半导体、金属和介电层在内的一系列材料提供精确、可重复的测量。该机器为研究人员提供了一个理想的平台,他们希望为各种设备和应用准确、快速地表征薄层和表面效果。
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