二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9160447 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一个最先进的掩模和晶圆检验系统，旨在对缺陷分析、产量和工艺优化、光掩模修复、掩模配准和对准等领域进行一整套关键的国际标准测试。该产品采用强大的高频电子束（E-Beam）工具，用于对掩模特性进行快速准确的评估。它还具有自动特征识别（AFR）模块,用于自动检测电子束产生的图像中的模式和缺陷。AMAT SemVision G2提供高分辨率晶片和掩模的二维成像，并提供成像和E-Beam的直接集成。这种高性能系统允许多级垂直和横向扫描控制,并提供微调算法来监视关键掩码参数。它与Allen-Bradley支持面向过程编程的Logix 5000平台集成在一起，允许在生产环境中轻松集成。APPLICED MATERIALS SemVision G2具有多种蒙版优化工具：Image Match，用于识别蒙版图像中的相似图样；Auto-Align and Compare，用于掩码配准和对齐；以及各种为改善表面和结构特性而专门设计的引线框架增强算法。该产品还包括先进的E-Beam合成软件,可提高性能和准确性。SemVision G2提供独特的分层感知校准功能,有助于优化舞台运动。该产品还提供自动本地像素调整,从而减少了手动调整的需要,并消除了可能出现的错误。它允许智能错误识别,并支持最新的缺陷分类。AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2提供高效晶圆检查，并提供全面的计量能力。它与各种工艺缺陷兼容，包括化学机械平面化（CMP）缺陷、隔离颗粒、亚微米颗粒和化学机械抛光（CMP）工艺均匀性。产品可以处理电介质,包括Si,以及TaN、Ta2O5和HfO2层。AMAT SemVision G2提供了多种工具,可帮助满足任何高端晶圆检查应用程序的需要。该产品非常适合任何需要快速、准确、高性能结果的环境。它提供了对MISRA-C++编码标准的全面支持,并且可以配置为符合行业安全标准。