二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269339 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2掩模和晶片检测设备是用于集成电路掩模和半导体晶片高级成像和检测的线路系统的顶部。这一通用单元的设计符合最高的精度和性能标准，能够以高效率和准确度检查Mask、Wafer和JPEG图像。AMAT SemVision G2机器提供的高级成像功能使操作员能够拖放不同的检查参数,从而为设备增加了无与伦比的易用性。该工具的主要特点是能够检测掩模或晶片设计区域内或实际芯片表面上的缺陷。APPLICED MATERIALS SemVision G2具有高达每英寸1024像素的先进像素分辨率和先进的缺陷识别算法，可以检测到亚像素大小和诸如通气和粒子等关键缺陷。此外,该资产还包括一个显微镜图像库,为操作员提供额外的细节和功能,例如3D视图和拆分影片。SemVision G2还配备了集成的自动化相移扫描技术，使操作员能够快速准确地检查口罩的注册和相位精度。除了可定制的视野、灵活的照明和创新的缺陷分类功能外,用户还能够快速检测和隔离严重缺陷区域。该模型包括一套软件包,旨在促进快速高效的缺陷查看、高级缺陷跟踪、精确的报告和可定制的图像查看。该软件加上AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G2直观的用户界面，使得经验丰富、经验不足的操作员可以轻松使用。AMAT SemVision G2掩模和晶圆检验设备旨在提供市场上可用的最高成像、检验和分析标准。凭借其高分辨率、自动化特征识别能力和用户友好的界面，该系统是半导体制造商和集成电路设计者的理想选择。