二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #131981 待售

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ID: 131981
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC MIS 200是一种创新的掩模和晶圆检测设备,旨在为用户提供确保高精度性能的高效方法。该自动化系统旨在优化每种被检验产品的质量,提供准确可靠的结果。该单元配备了两个主要元素:一个成像子系统和一个模式识别子系统。成像子系统配备了自动晶片扫描、先进的模式识别,以及一台甚至可以检测晶片上最小缺陷的高分辨率图像扫描机。模式识别子系统包括一个功能强大的软件包,用于识别和评估晶圆或掩码的状态。这使工具能够识别可能影响产品性能的缺陷。集成成像资产还包括彩色相机、滤镜和成像镜头,它们能够以极高的精度捕获掩模和晶圆的图像。镜头执行串联和离线扫描,提供晶圆或掩模的全场图像,以获得最高精度。用户友好的触摸屏还允许直观控制模型。此外,LEICA MIS 200配备了模式识别功能,可以识别和区分复杂和简单的模式,以及确定它们的区域覆盖范围。该设备可以精确测量晶圆和掩模尺寸,执行缺陷测量,并分析关键尺寸和地形测量。系统直观的用户界面允许用户快速设置并运行测试,而其智能数据分析则允许轻松快速的数据分析。这使用户能够快速识别潜在问题并采取纠正措施。VISTEC MIS 200非常适合在质量和准确性最高的制造环境中使用,因为它使用户能够快速准确地分析其产品的缺陷。这种面罩和晶圆检测仪既性能快又精确度高,是任何现代工厂必不可少的工具。
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