二手 LEICA / VISTEC MIS 200 #9254135 待售

LEICA/VISTEC MIS 200是一种领先的自动掩模和晶圆检查系统。它由LEICA开发,具有先进的成像、机器学习和模式识别技术,可提供快速可靠的缺陷检测和分类功能。它最大限度地提高了质量控制，加速了掩模和晶圆的制造过程。LEICA MIS 200能够通过其动态照明、亮场、暗场和斜角光学模式获取掩模或晶片每一层的图像。由于其优越的成像能力和多种在线检测技术，它能够检测和分类到纳米级以下的缺陷。该系统可以在掩码和晶圆表面上构建每一层的3D图像,以便进行更精确的检测。VISTEC MIS 200具有直观的图形用户界面（GUI）,使操作员能够在质量控制方面执行更快、更了解情况的决策。GUI配备了基于触摸的操作,可提供导航和导航控制,以便在复杂缺陷分析中进行更轻松的实验。它还具有集成的图像分析、图像校正和缺陷图分析软件，可以加快和加速质量控制操作。在计量和缺陷跟踪方面，MIS 200集成了模式识别算法和鲁棒缺陷检测技术。高级算法可以准确检测和分类掩模或晶片每一层上的缺陷,并创建具有感测和测量功能的全面缺陷剖面。这有助于操作员进行进一步的分析并做出明智的决策。此外,LEICA/VISTEC MIS 200还提供统计过程控制（SPC）功能,以监测制造过程和测量产品质量。这有助于减少面罩和晶圆制造的拒绝和浪费。总之，LEICA MIS 200是一种高性能的掩模和晶圆检测系统。它具有可靠的缺陷检测、图像和缺陷分析以及统计过程控制功能。其先进的成像、模式识别和机器学习技术使操作员能够快速识别和解决缺陷，改进质量控制，减少拒绝和浪费。