二手 METRICON PC 2010 #9134609 待售

METRICON PC 2010是由Metronics, Inc.设计制造的掩模和晶圆检验设备。它设计用于晶圆晶片和半导体制造中的晶圆和掩模检验，以及学术研究和生产相关领域。该系统由一个自供电的"智能框架"、一个控制器/主机计算机、两个摄像机、两个显示器和几个安装位置供电，以容纳各种组件。METRICON PC-2010基于Metronic先进的图像处理技术,对细小缺陷和晶圆特征进行一致、快速的检查和测量。使用多种非破坏性光机械法检测晶圆和掩模表面上的图样和污染物。这些包括高灵敏度的亮场和暗场检查，立体视觉检查，线扫描和图像缝合。该单元具有16位动态范围精度，使用宽视野检测使用传统方法很难发现的缺陷和异常。该软件提供模式识别功能,以更好地检测过程缺陷,以及缺陷分类和报告,从而方便对缺陷进行分类和跟踪。它还具有灵活的可编程用户偏好，包括各种显示设置、各种采样模式以及一系列图像处理算法，以提供准确和可重复的结果。PC 2010能够处理多个晶圆尺寸和多个掩模尺寸的检查，包括1.75英寸、2.5英寸、3.2英寸、4英寸和6英寸晶圆。快速扫描速度、高分辨率和可调工作距离允许对高密度模具和紧密螺距晶片进行高效、准确的检查。该机还配备了从多个角度观看图像的广角数码相机，以及用于更快存档和检索的内置CD记录机制。在安全和安保方面，PC-2010符合国家和国际安全标准，包括实物和软件保障措施，以确保不允许未经授权的人员进入。这个工具也是完全低维护，只有偶尔需要校准，以确保准确性和性能。总体而言，METRICON PC 2010是一种先进可靠的掩模和晶圆检测资产，旨在提供准确的缺陷检测和分类。其卓越的成像能力、快速的扫描速度和广泛的模式识别算法，使其成为任何现代半导体制造工艺的理想检验模型。