二手 MICRO ENGINEERING Custom #9097905 待售

MICRO ENGINEERING Custom Mask&Wafer Inspection是一种高精度的检查设备,可精确快速地确定尺寸并识别掩模和晶片基板上的缺陷。该系统独特的光学技术和软件算法直接测量了常规CCD系统难以测量的零件和缺陷模式。设备的高级光学配置确保了高度精确的材料测量。其独特的设计使得能够精确测量蒙版和晶片上的开路和短路。它配备了高分辨率相机和先进的光学器件，以卓越的精度和速度扫描这些材料表面。该机还具有缺陷检测模块，可通过板载图像处理模块识别和分类微小缺陷，以实现最佳检测精度和性能。它还利用先进的晶圆分析模块来测量和识别基板非光学区域的缺陷。此工具可以检测非均匀性和材料缺陷,以及测量关键过程参数以进行过程控制和改进。资产还配备了用于自动设置、捕获、审查和分析测量结果的高级软件平台。模型可以进行许多不同类型的测量,例如线宽、迭加/错位、元素间间距、晶体管栅极长度等等。设备操作简单，设置和运行方便。该系统还提供全面的数据报告和管理功能，以确保最佳数据完整性。数据是安全存储的,可以方便地导出到方便的位置。定制掩模和晶片检验单元提供卓越的性能和优越的结果，以满足所有材料为基础的检验需求。这台机器是面膜和晶片相关生产、质量控制和研究的理想选择，因为它提供了高质量、可重复的结果以及准确可靠的性能和支持。凭借其全面的功能和易于使用的操作,此工具可以证明是任何生产或研究设施的宝贵资产。