二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #126967 待售

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ID: 126967
优质的: 2002
Wafer prober, 12" Fail mark inspection: Yes Needle inspection option: Yes Auto needle alignment option: Yes Auto needle height setting: Yes Off site marking: No Auto card changer: Only card PGV Camera Oblique and coaxial: Yes TH Clamp: Yes Card guide drawer: No High rigidity chuck: Yes RS232: No GPIB: Yes Driver marker by category: No Cleaning unit: Z-WAPP Z-Axis stroke long: Yes Hot/cold chuck temperature: +50 to +150° Internal printer: No External printer: Yes OCR: No Dual cassette: No Single cassette: Yes SACC Cart available: Yes Alignment board (VIP1, VIP2, VIP3, etc): VIP3 Linear scale: No Chiller: No Stored in a warehouse 2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是一种用于发射精确、自动化测量和检查的探测器。该prober旨在为半导体用户提供更高的吞吐量和更高的运行效率,无论是在单晶圆上工作还是在4英寸晶圆上工作。它是探测和接触器测试、微凸点、射频测试和探测、翻转芯片凸点键合、精确定位等多种应用的高度适合选择。Prober拥有紧凑的机身,最大尺寸为1,540 (W) x 1,760 (D) x 1,660 (H) mm,这意味着它几乎可以放置在任何环境中。TEL/TOKYO TEL P 12 XLN设备能够进行广泛的测试,包括联系检查、验证、红外掉落和Dommon Area Bridging。此外,它还提供一流的吞吐量和系统性能。该工具提供了具有出色运动范围和精确度的螺旋桨结构。表面积为业界最大之列,允许最多54.2毫米x 54.2毫米的横越和55毫米的行程。此外,该单元还具有内置的动态精细进纸器和线性伺服电动机,有助于实现高精度运动和卓越的对准精度。该探针还具有高速安装和卸载晶片以及新开发的晶片更换器的特点,显着提高了吞吐量。它能够以25 µm的精度和更高的精度进行测量。此外,TOKYO ELECTRON P-12 XLN通过采用防尘设计的安全密封结构,在工艺过程中为晶片提供了极好的保护,以保证清洁度。机器还有一个先进的软件包,它允许高精度的完全控制。这包括用于几种测试功能的内置软件、完全由计算机控制的操作以及宏编程。此外,用户可以使用详细的规格和手册访问有关产品的在线信息。总体而言,P-12XLn是自动测量和检查需求的绝佳选择。它为晶片提供了卓越的精度、高吞吐量、灵活的操作和安全的环境。由于其特性和功能,prober非常适合广泛的应用和行业。
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