二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293609216 待售

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ID: 293609216
晶圆大小: 8"
Prober, 8" Monitor Stage: Chuck top Indexer: Indexer set switch Manipulator MVME Rack: 147CON IP DP 316 QMC3 SIO GPIB Loader: Sub chuck Pincette (Upper) Pincette (Lower) Solenoid Wafer sensor Vacuum sensor Loader interlock Utility: LST PST-STD PST-OPT LST-1 LST-2 Inter connect 1 Inter connect 2 Alarm control SACC: R/I-photo sensor Rotary switch Tray-photo sensor Control board.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种设计用于半导体工艺开发和器件表征的prober。它是一个完全自动化的测量系统,包含一个高性能的prober,控制器和专门的软件。TEL P8具有完全的定位精度、高精度的平整度和刚度、高速的运动和从TEL可以预期的可靠性。TOKYO ELECTRON P 8 prober配备了精确的运动控制系统,具有用于精确定位的集成编码器和用于prober精确速度定位的电机。它还结合了先进的prober技术,以确保精确定位、被测装置全覆盖、平整度、刚度和可靠的性能。P8的倾斜头允许精确定位,无论检测过程中器垫极性和测量端口的精确对准。TEL/TOKYO ELECTRON P 8也被设计成与多种类型的加工工具配对,包括各种模结工具和不同类型的测量工具。此外,TOKYO ELECTRON P8与TOKYO ELECTRON测量工具接口兼容,便于安装、操作和维护。TEL P8 prober非常精确,能够以高达每秒17毫米的速度移动。此外,双刀尖设计允许在多个不同尺寸的设备和各种护垫配置上提高扫描精度。这个prober还包括一个多功能的垫子,它允许一次对三种不同类型的IC进行接触测试。P8 prober由专门为TEL P-8型号设计的专用prober软件提供动力。此软件包括针对小型和大型模具优化的探测算法,以及各种护垫配置。这些算法提高了测量精度,使设备能够在探测的同时监测芯片(芯片)的高度和温度。TOKYO ELECTRON P-8的设计提供了高度的精确度,允许使用者进行可靠的测量。其加固结构和广泛的特点使其适合各种测试和测量应用,使其成为用于半导体工艺开发和器件表征的理想载体。
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