二手 HITACHI S-4700 Type II #9259272 待售

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HITACHI S-4700 Type II
已售出
ID: 9259272
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM) OXFORD EDS included Low kV performance with resolution of 2.1 nm at 1 kV (2) Secondary electron detectors.
HITACHI S-4700 II型扫描电子显微镜(SEM)是一种功能强大的显微镜设备,利用扫描电子束产生样品表面的高分辨率图像。它是一种用途广泛的工具,可用于对多种材料进行成像和分析,如固体金属、生物组织和矿物。HITACHI S 4700 TYPE II具有独特的双柱设计,使用户能够从1 kV到30 kV的一系列加速电压中进行选择。这提供了高空间分辨率和低标本漂移,减少了频繁聚焦的需要。SEM能够以高达500,000倍的倍率生成高分辨率图像,并且可以生成彩色图像以更好地分析某些特征。S-4700 II型具有一系列提高图像精度和对比度的先进技术,如反向散射电子成像(BSEI)、二次电子成像(SEI)和能量色散X射线光谱(EDS)。SEI允许使用超小型电子成像,主要产生地形图像,而BSEI则使用更多从样品中散射出来的质量电子,产生具有更多表面特征的图像。EDS功能允许用户分析元素组成,主要用于查看薄膜结构。S 4700 TYPE II具有许多功能,使其非常适合多种应用,例如半导体和器件的纳米级分析。它还能够表征生物样品以及聚合物、陶瓷和金属等材料。用户友好且易于使用的软件使SEM成为学术界、研究界和工业界的宝贵工具。此外,HITACHI S-4700 Type II还配备了多种复杂的附件,如视频显示器、真空系统和摄像头接口。集成真空系统为成像和分析创造了干净的环境,而摄像机界面则允许实时数据采集。视频监视器以各种查看格式显示高分辨率图像。总体而言,HITACHI S 4700 TYPE II是一种精密而强大的成像工具,用于各种材料的纳米级分析。它的功能和附件功能使用户能够充分利用SEM必须提供的映像功能。
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