二手 HITACHI WA 3300 #9232735 待售

HITACHI WA 3300
ID: 9232735
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA 3300是一种扫描电子显微镜(SEM),设计用于提供各种样品的高分辨率成像和分析。它具有先进的Abbe和现场发射技术,可优化聚焦稳定性,提高图像分辨率,提高运行速度和吞吐量。仪器的主柱装有野外发射枪(FEG)和高压电源,提供更大的聚焦深度,减少球面像差。这样可以同时在各种放大倍数上实现更高分辨率的成像和图像稳定性。该仪器可使用各种物镜操作,范围从低放大倍率(非常适合大样品)到超高放大倍率(非常适合进行详细的表面分析)。质量分析系统(Mass Analysis System, MAS)提供了非常快速的图像采集,具有高度集成的主次色谱柱,具有超高性能延迟线检测器和高稳定性二次电子检测器。MAS还为观察各种材料提供了高灵敏度,如半导体、金属以及陶瓷和有机材料。电子束聚焦系统(EBFS)是HITACHI WA3300的一个强大而坚固的特点,通过调整束的横向和纵向位置,方便地控制最佳采样束。此特征对于曲面不均匀或特征复杂的样本特别有用。WA-3300还具有独特的成像和分析系统,能够在成像和分析过程中实时观察和优化成像参数。实时电子束优化过程简化了SEM操作的复杂性,简化了工作流程,提高了工作效率,缩短了分析时间。最后,WA3300提供了大量的SEM附件,如自动样品准备单元、自动舞台选项、数字SEM图像处理器以及各种数据分析和采集系统。这些组件结合易用性和高性能,使WA 3300成为各种样品分析和成像应用的理想选择。
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