二手 JEOL JWS 7515 #129821 待售

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ID: 129821
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7515是一款最先进的扫描电子显微镜(SEM),具有高性能和高级功能。JEOL JWS-7515采用超稳定柱设计,具有卓越的性能特性和图像分辨率。SEM的设计能够处理各种尺寸和形状的样品,从纳米颗粒到散装材料。该装置由高速数字扫描装置驱动,有助于显着减少振动和噪音,从而能够扫描细腻和高度敏感的样品。JWS 7515还配备了坚固的自动聚焦设备、强大的ESB(电子源保护)系统和优化的偏转单元,以实现卓越的图像质量。SEM拥有大范围的电子光学器件,如低噪声闪烁器、数调高分辨率成像机和溷合工作距离。这允许用户在优化成像要求的同时,根据样品的特定需求量身定制电子光学器件。此外,该设备还具有较大的广角视野,使用户可以访问整个样品表面。SEM配备了强大的热真空室,提供环境控制条件,非常适合温度敏感样品。它还有一个专门的样品制备室,可以自动装卸样品。凭借其强大的内置软件,JWS-7515提供了多种功能,如映像控制、数据采集和分析,使用户能够快速有效地收集所需的数据。JEOL JWS 7515包括一个高级成像包和一系列进一步自动化分析的选项。这些可选的软件包使处理图像、生成图形、图表和其他数据量化成为可能。该设备还支持用于自定义数据分析的用户定义参数。总体而言,JEOL JWS-7515是一种功能强大、性能高的扫描电子显微镜,具有先进的特性和功能。它为用户提供卓越的图像分辨率和灵活的成像功能,支持获取任何类型的样本。自动分析选项的范围为用户提供了一种收集所需数据的便捷方法。
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