二手 JEOL JWS 7515 #293621560 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

ID: 293621560
优质的: 1997
Wafer inspection system 1997 vintage.
JEOL JWS 7515是一种高性能扫描电子显微镜(SEM),设计用于多种苛刻的分析技术和观测。它有一个通用的设计,可以同时用于高和低真空操作。JEOL JWS-7515是一种先进的现场发射SEM,最终分辨率为1.7 nm。它有一个数字镜头内二次电子(SE2)检测器、反向散射电子(BSE)检测器和一个能量滤波器。探测器可以进行成像和元素分析。能量滤波器还能够成像和分析,同时限制一些撞击电子的能量。SEM使用大量成像和分析应用,包括成像、表面分析和粒子分析。当用于成像时,JWS 7515提供了高水平的细节和对比度。它还具有特殊的功能,例如对多个图像进行Z堆迭以生成3D图像。JWS-7515还提供各种探测器以增强分析能力。这包括冷BSE探测器,它检测较轻的元素,如氢和氦。它还提供专门的探测器,如X射线衬里色散光谱仪(XLDS),可用于能量分辨率为0.3 eV的多种元素的微观分析。JEOL JWS 7515借助SEM的计算机自动化控制(CAC)系统提供了广泛的自动化分析程序选择。自动扫描、自动操作、元素分析自动数据采集、图像缝合、表面检测等功能均标配。这使得SEM更易于使用,并提高了其整体生产率。总之,JEOL JWS-7515是一种顶级扫描电子显微镜,能够提供复杂的图像和准确的结果。它提供高分辨率成像和几种分析能力,其各种探测器。CAC还提供了专门量身定制的自动化分析例程,使此SEM的运行变得快捷易行。所有这些特性使得JWS 7515成为各种应用的高效仪器。
还没有评论