二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9211547 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一种掩模和晶片检查设备,它结合了增强的成像和扫描性能以及先进的缺陷检测和分类能力,能够快速准确地表征所有掩模和模具缺陷。该系统旨在检测单倍或多级检查中的异常。它还提供了高级算法来检测以前看不见的缺陷或过程缺陷。该单元包括一个晶片/蒙版-观看器与集成激光扫描仪的高分辨率放大和成像。AMAT SemVision G2外形小巧轻巧,使用方便,是基准和半导体晶圆厂环境的理想选择。它具有高功率的LED照明,可改善对比度,以及精密的光学机器,可快速准确地进行检查。集成的晶片/掩模平整度检查工具可确保掩模和模具表面保持平面和精加工水平。该资产的设计易于设置和校准，有多种选项可用于不同的检查方桉。这允许用户在几秒钟内快速检查大量切丁设备。模型的检查速度能够在几分钟内捕获多达100万个设备图像。APPLICED MATERIALS SemVision G2还支持自动缺陷审查（ADR）以提高缺陷表征精度。SemVision G2设备还支持缺陷成像，允许用户在晶圆表面和横截面映射中查看缺陷的多个图像。这有助于根据设备的形状、大小和位置对缺陷进行准确分类。系统还支持基于规则、模式匹配、图像分析等多种类型的缺陷检测算法，以更好地识别和表征缺陷。此外,该设备还提供实时同地成像功能,用于快速精确的缺陷检查。AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2机器提供快速的周转时间、出色的重复性和精确的设备性能。借助集成编辑器，用户可以快速查看检查图像，创建蒙版和晶圆布局图，调整图像对比度和亮度。直观的用户界面还提供有关缺陷覆盖范围和缺陷清晰度的清晰信息。AMAT SemVision G2具有增强的功能和多种功能,是满足掩模和晶圆检测需求的完美解决方桉。